印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環節的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數漂移等關鍵失效模式頻發。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統宕機,更常引發設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續提升,而客戶對高要求產品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發,常引發供應商與用戶間的責任糾紛及重大經濟損失。
金屬構件服役環境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
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原子力顯微鏡(AFM)

AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力,所以又被稱為原子力顯微鏡。

AFM 可適用于各種的材料及產品分析,如金屬材料、高分子聚合物等,并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環境,進行不同物性分析,所以AFM 最大的特點是其在空氣中或液體環境中都可以操作, 因此,AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應用。

原子力顯微鏡(AFM)

| 項目概述

 

AFM 是以針尖與樣品之間的屬于原子級力場作用力,所以又被稱為原子力顯微鏡。AFM 可適用于各種的材料及產品分析,如金屬材料、高分子聚合物等,并可以操作在大氣、真空、電性及液相等環境,進行不同物性分析,所以AFM 最大的特點是其在空氣中或液體環境中都可以操作, 因此,AFM 在生物材料、晶體生長、作用力的研究等方面有廣泛的應用。根據針尖與樣品材料的不同及針尖-樣品距離的不同,針尖與樣品之間的作用力可以是原子間斥力、范德瓦爾斯吸引力、彈性力、粘附力、磁力和靜電力以及針尖在掃描時產生的摩擦力。通過控制并檢測針尖與樣品之間的這些作用力,不僅可以高分辨率表征樣品表面形貌,還可分析與作用力相應的表面性質:摩擦力顯微鏡可分析研究材料的摩擦系數;磁力顯微鏡可研究樣品表面的磁疇分布,成為分析磁性材料的強有力工具;利用電力顯微鏡可分析樣品表面電勢、薄膜的介電常數和沉積電荷等。另外,AFM 還可對原子和分子進行操縱、修飾和加工,并設計和創造出新的結構和物質。

 

 

| 測試目的

 

1、表面形貌:能夠直接觀測樣品的表面形態和粗糙度。

2、物理性質:如力學性質、硬度、粘彈性等。

3、粗糙度參數:包括Ra、Rq、Rz等。

4、顆粒度和孔結構:可以分析樣品的顆粒度、孔徑分布等。

5、壓縮楊氏模量:測量材料的彈性特性。

 

 

| 測試標準

 

GB/T 31227

 

 

| 服務產品/領域

 

AFM是一種重要的納米級表征技術,廣泛應用于材料科學、生物學等領域;

在晶體生長、作用力的研究等方面也有廣泛的應用。

 

 

| 美信優勢

 

1、專業團隊:擁有多名經驗豐富的檢測工程師和技術專家。

2、先進設備:配備國際領先的檢測設備,確保檢測結果的準確性和可靠性。

3、高效服務:快速響應客戶需求,可檢測適用各種材料,高效快速獲得真實準確的掃描圖像。

4、權威認證:實驗室通過ISO/IEC 17025認證,檢測報告具有國際公信力

 

常見問題
  • 常規樣品要求?
    1. 樣品狀態:可為粉末、塊體、薄膜樣品;
    2. 粉末樣品:常規測試項目樣品起伏一般不超過5微米,特殊測試項目樣品起伏一般不超過1um,提供20mg,液體不少于1ml;
    3. 粉末/液體樣品請務必備注好制樣條件,包括分散液,超聲時間及配制濃度;
    4. 薄膜或塊狀樣品尺寸要求:長寬0.5-3cm之間,厚度0.1-1cm之間,表面粗糙度不超過5um,一定要標明測試面! 塊狀樣品需要固定好,避免在寄送過程產生晃動或摩擦影響測試結果!
    5. 測試PFM、KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的材料需要將樣品制備在導電基底上,基底大小符合塊狀樣品的尺寸要求,KPFM、C-AFM、PeakForce TUNA的樣品需要導電或至少為半導體;
    6. PFM,KPFM測試需要樣品表面十分平整,樣品粗糙度最好在10-200nm之間,粉末樣品測試很難測到較好結果,下單前請確保風險可接受。
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