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透射電子顯微鏡（TEM)

透射電子顯微鏡（TEM）試驗(yàn)基于電子束波動(dòng)性原理，電子槍發(fā)射高能電子束，經(jīng)聚光鏡會(huì)聚后穿透樣品，再通過(guò)物鏡、中間鏡和投影鏡等電磁透鏡系統(tǒng)接力放大成像于熒光屏或記錄系統(tǒng)。?

透射電子顯微鏡（TEM)

| 項(xiàng)目概述

其顯著優(yōu)勢(shì)在于：分辨率可達(dá) 0.05nm，能捕捉原子級(jí)細(xì)節(jié)；放大倍數(shù)超 100 萬(wàn)倍，可實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨；還可結(jié)合能譜儀，對(duì)晶體結(jié)構(gòu)、缺陷分布及元素成分進(jìn)行定性定量分析。該技術(shù)在材料科學(xué)中助力研究金屬、半導(dǎo)體等微觀結(jié)構(gòu)與性能關(guān)系，在生命科學(xué)中用于觀察細(xì)胞超微結(jié)構(gòu)及病毒形態(tài)，在物理學(xué)領(lǐng)域?yàn)榧{米材料研究提供關(guān)鍵實(shí)驗(yàn)依據(jù)。

| 測(cè)試目的

1.觀測(cè)微觀形貌與結(jié)構(gòu)：借助高分辨率（可達(dá) 0.05nm）和超百萬(wàn)倍放大能力，觀察材料、生物樣本等的納米級(jí)微觀結(jié)構(gòu)（如晶體晶格、細(xì)胞細(xì)胞器、納米顆粒形貌），揭示原子級(jí)排列與缺陷分布。?

2.分析物質(zhì)成分與特性：結(jié)合能譜儀等附件，對(duì)樣品晶體結(jié)構(gòu)、元素成分進(jìn)行定性定量分析，探究材料缺陷、位錯(cuò)等與性能的關(guān)聯(lián)，或解析生物大分子空間構(gòu)象。?

3.服務(wù)多領(lǐng)域研究需求：在材料科學(xué)中指導(dǎo)新材料研發(fā)，在生命科學(xué)中闡釋疾病機(jī)制，在物理學(xué)中為納米技術(shù)提供實(shí)驗(yàn)依據(jù)，實(shí)現(xiàn)從微觀結(jié)構(gòu)到宏觀性能的關(guān)聯(lián)研究。

| 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 34002-2017 微束分析透射電子顯微術(shù) 用周期結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)校準(zhǔn)圖像放大倍率的方法

GB/T 18907-2013 微束分析分析電子顯微術(shù) 透射電鏡選區(qū)電子衍射分析方法

JB/T 9352-1999 透射電子顯微鏡試驗(yàn)方法。

| 服務(wù)產(chǎn)品/領(lǐng)域

透射電子顯微鏡應(yīng)用廣泛。在材料科學(xué)領(lǐng)域，可研究金屬、陶瓷等微觀結(jié)構(gòu)，助力新材料研發(fā)；生命科學(xué)中，能觀察細(xì)胞、病毒等超微結(jié)構(gòu)，輔助疾病機(jī)制研究；半導(dǎo)體行業(yè)里，用于芯片內(nèi)部原子結(jié)構(gòu)觀測(cè)、缺陷分析，提升芯片生產(chǎn)良率，也為顯示技術(shù)發(fā)展提供支持。

| 項(xiàng)目?jī)?yōu)勢(shì)

高分辨率：可達(dá) 0.05nm，能捕捉原子級(jí)微觀結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。?

超大放大倍數(shù)：超 100 萬(wàn)倍，實(shí)現(xiàn)原子級(jí)分辨成像。?

多功能分析：可結(jié)合能譜儀等，同步分析晶體結(jié)構(gòu)、元素成分及缺陷分布。?

跨領(lǐng)域適用性：覆蓋材料科學(xué)、生命科學(xué)、半導(dǎo)體等多領(lǐng)域微觀研究需求。?

無(wú)損 / 低損檢測(cè)：如冷凍電鏡技術(shù)可降低電子束對(duì)生物樣品的損傷。?

動(dòng)態(tài)觀測(cè)能力：部分機(jī)型可實(shí)現(xiàn)原位動(dòng)態(tài)過(guò)程（如相變、生長(zhǎng)）的實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。

| 美信優(yōu)勢(shì)

1、專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)：擁有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測(cè)工程師和技術(shù)專(zhuān)家。

2、先進(jìn)設(shè)備：配備國(guó)際領(lǐng)先的檢測(cè)設(shè)備，確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。

3、高效服務(wù)：快速響應(yīng)客戶需求，提供一站式高效檢測(cè)服務(wù)。

4、權(quán)威認(rèn)證：實(shí)驗(yàn)室通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證，檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。

常見(jiàn)問(wèn)題

常規(guī)樣品要求？

試驗(yàn)前需對(duì)樣品特殊制備：塊狀樣品用超薄切片機(jī)切成約 50nm 的薄片；粉末樣品懸浮于溶劑后滴至載體膜；液體樣品則借助含硅氮化物窗口的液體池支架觀測(cè)。?

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