印制板及其組件(PCB&PCBA)是電子產品的核心部件,PCB&PCBA的可靠性直接決定了電子產品的可靠性。為了保證和提高電子產品的質量和可靠性,對失效進行全面的理化分析,確認失效的內在機理,從而有針對性地提出改善措施。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現,提高元器件可靠性。
集成電路復雜度與性能要求的持續攀升,疊加設計、制造、封裝及應用環節的潛在風險,導致短路、開路、漏電、燒毀、參數漂移等關鍵失效模式頻發。這不僅造成昂貴的器件報廢與系統宕機,更常引發設計方、代工廠、封測廠與終端用戶間的責任爭議,帶來重大經濟損失與信譽風險。
高分子材料性能要求持續提升,而客戶對高要求產品及工藝的理解差異,導致斷裂、開裂、腐蝕、變色等典型失效頻發,常引發供應商與用戶間的責任糾紛及重大經濟損失。
金屬構件服役環境日益苛刻,對材料性能和結構可靠性提出更高要求。然而,設計缺陷、材料瑕疵、制造偏差或不當使用等因素,極易引發疲勞斷裂、應力腐蝕開裂、氫脆、蠕變、磨損、過載變形等典型失效。
沒有找到您想要的?
立即咨詢專業工程師為您服務
沒有找到您想要的?
立即咨詢專業工程師為您服務
美信檢測以海量失效數據庫構建技術優勢,全譜系案例、復雜場景方案、頭部企業合作及體系化知識產權,各展其能。憑借百萬級失效解析積累,精準洞察本質,讓檢測報告為客戶質量升級提供有力支撐,實現失效歸零。
沒有找到您想要的?
立即咨詢專業工程師為您服務
實時更新美信檢測最新資訊,包括技術、展會、活動等動態。我們以專業檢測為基石,為客戶定制解決方案,從源頭把控質量,助力客戶在市場競爭中脫穎而出,實現商業成功。
沒有找到您想要的?
立即咨詢專業工程師為您服務
美信檢測一家具有國家認可資質的商業第三方實驗室 我們專注于為客戶提供檢測服務、技術咨詢服務和解決方案服務,服務行業涉及電子制造、汽車電子、半導體、航空航天材料等領域。
美信檢測在深圳、蘇州和北京均建有實驗基地,設立了多學科檢測和分析實驗室。公司基于材料科學工程和電子可靠性工程打造工業醫院服務模式。
沒有找到您想要的?
立即咨詢專業工程師為您服務
專業檢測網站,數據精準洞察,為投資者筑牢信任基石
沒有找到您想要的?
立即咨詢專業工程師為您服務

速看!一例典型的焊點連錫失效案例

發布時間: 2025-09-04 00:00
分享至:

圖片

連錫指兩個及多個焊點被焊料連接在一起,造成外觀及功能上不良。結構設計缺陷、工藝不良、焊料不良等都會導致元器件出現錫珠、連錫、虛焊等失效問題,影響產品使用可靠性。

某LED 顯示模組表面噴墨后高溫烘烤,烘烤后出現大量錫珠,且局部列亮。

接下來將通過無損檢測、表面分析、切片分析、成分分析等失效分析手段,查找模組烘烤后出現大量錫珠的原因,并提出改善建議。

1.失效復現&外觀檢查

對模組通電后進行失效現象確認,不良樣品模組均出現列亮異常,未噴墨樣品未見明顯異常。

NG模組燈珠焊點周圍,外觀檢查均發現大量錫珠存在;而未噴墨的正常樣品模組燈珠焊點周圍均未見明顯異常。

圖片


圖1.NG樣品與未噴墨OK樣品光學檢查照片

2.無損檢測

NG模組列亮異常燈珠焊點周圍發現有大量錫珠現象,局部存在連錫異常;OK模組燈珠焊點周圍未見明顯異常。

圖片


圖2.NG和OK透射檢查照片

3.表面分析

 NG透射檢查燈珠連錫異常位置剝離燈珠后,燈珠焊盤間確實存在連錫異常;未剝離燈珠邊緣也可見有明顯錫珠存在;焊盤處焊錫與連錫處焊錫成分均為錫鉍焊料,未見明顯區別。

圖片

圖片


圖3. NG連錫燈珠機械剝離后界面形貌及EDS成分結果


 OK燈珠剝離后界面和未剝離燈珠周圍均未見錫珠及連錫異常。

圖片


圖4.OK燈珠機械剝離后界面形貌及EDS成分結果


4.剖面分析

 NG連錫處焊錫和OK正常焊點焊錫,兩者均為錫鉍焊料,形貌和成分均未見明顯區別;油墨與阻焊層之間界面輪廓清晰,界限分明,未發現明顯反應跡象。燈珠焊點焊錫高度對比顯示:連錫燈珠的焊點焊錫高度為28.3μm,遠低于正常樣品燈珠焊點高度。


      以上結果可以說明:NG連錫處焊錫來自焊點焊錫,其形成過程推測為:焊點在高溫烘烤過程中熔融,被周圍油墨膨脹排擠而導致連錫發生,后續對連錫形成機理進一步分析。


圖片


圖5.NG#連錫燈珠切片后截面形貌及EDS成分譜圖


圖片


圖6.OK#燈珠焊點切片后截面形貌及EDS成分譜圖

5.油墨成分分析&含水量分析

   油墨EDS成分分析顯示:油墨含有Si/C/O/Ti/Al元素;

   油墨FTIR成分分析顯示:油墨主要成分為二氧化硅填充的氨基丙烯酸樹脂。

圖片


圖7. 油墨形貌及EDS成分分析譜圖

圖片


圖8. 油墨FTIR分析譜圖


對油墨中水含量進行測試,結果顯示油墨中水重量百分比含量為1.38%。

6.熱性能分析

6.1 熔點測試


      將錫膏融成錫塊后,對錫塊熔點進行測試,結果如下:

      1)焊錫熔點為138.3℃。

      2)模擬試驗:焊錫+油墨(混合比例1:1)熔點為137.5℃,與未添加油墨時焊錫熔點無明顯區別,說明焊錫熔點未受到油墨的影響。

圖片


圖9.焊錫熔點測試曲線


圖片


圖10.焊錫+油墨(比例1:1)熔點測試曲線


6.2 油墨TG測試

   參考BS EN ISO 11358-1:2014 塑料 聚合物熱重法(TG) 第1部分:通則,對油墨TG進行測試,結果如下:

油墨質量在112.3℃-250℃之間急劇降低,說明在該溫度區間,油墨發生了急劇的揮發分解反應。而焊錫熔點在137.5℃-138.3℃,油墨急劇揮發時,焊錫處于熔融狀態,故焊點焊錫一定承受了來自油墨揮發及膨脹的內應力作用。

7.模擬試驗

   對未噴油墨模組涂抹油墨后,分別在不同溫度條件下烘烤一定時長,然后對烘烤后樣品進行透視檢查,結果如下:


      1)70℃-130℃恒溫烘烤后,發現模組燈珠焊錫周圍未見明顯錫珠異常。


      2)140℃/160℃恒溫烘烤后,發現模組燈珠焊錫周圍可見大量錫珠現象,不良現象與失效樣品一致。


      以上結果說明,烘烤溫度高于焊錫熔點后,模組燈珠焊錫周圍一定會有錫珠異常的產生,而溫度低于焊錫熔點時,將不會產生錫珠及連錫等異常現象。


圖片

圖11.模擬噴墨烘烤后X-Ray透射檢查圖片


8.總結與建議

結論:綜上所述,模組發生列亮異常的直接原因為模組燈珠焊點間發生了連錫異常,而連錫產生的原因為噴墨后烘烤過程中,溫度高于焊錫熔點,導致焊點焊錫熔融,而油墨在該溫度下急劇揮發、膨脹,導致周圍熔融焊點被排擠而出現連錫及爆錫錫珠異常。


建議:降低烘烤溫度,建議按照規格書固化工藝參數進行管理。


相關案例
PCBA清洗后失效!同一個位置,同樣的腐蝕,為何偏偏是它?
在電子制造的PCBA加工環節中,清洗、涂覆是提升產品可靠性的關鍵工序,但有時卻會成為失效的 “導火索”。
看似正常的PCBA,為何無法開機?
近期,某智能終端產品在客戶端反饋:多片PCBA出現不開機故障,涉及點膠與未點膠兩種工藝狀態。失效現象一致:上電后無法正常啟動,嚴重影響產品交付與客戶體驗。
技術專欄 | BGA焊點空洞:不容忽視的工藝缺陷!
球柵陣列封裝(BGA)是一種集成電路表面黏著技術,通過底部錫球陣列替代傳統引腳,應用于微處理器、通信芯片及消費電子產品的永久固定。該封裝由芯片、封裝基板和焊球陣列組成,連接方式包括引線鍵合與倒裝焊。相比雙列直插封裝,BGA能容納更多接腳,縮短導線長度以提升高速性能,并具備低電感、高導熱性優勢。
潮濕是電子產品的“隱形殺手”?一起PCBA燒毀“病例”
在電子制造領域,產品在倉儲周轉后突發上電失效是常見挑戰,這類失效往往原因隱蔽,常規檢測難以定位,仿佛存在“隱形殺手”。
HUB芯片莫名失效,元兇竟是靜電?
我們常面臨一個典型困境:芯片外觀完好,卻功能盡失。這背后究竟是芯片自身存在設計或工藝的先天缺陷,還是在生產、運輸或使用中受到了外部應力的不可逆損傷?
紅磷阻燃劑:電子制造的合規挑戰與應對指南
在電子制造領域,阻燃材料的選擇一直是在性能、成本與安全環保之間尋求平衡的重要課題。紅磷作為一種常見的無鹵阻燃劑,因其高效阻燃和成本優勢被廣泛應用,卻也因其潛在的化學風險受到日益嚴格的管控。今天,我們就來科學解析紅磷在電子制造中的應用特性、風險來源,以及行業如何對其進行有效檢測與管控。
在線客服
業務咨詢
免費咨詢
報告查詢
回到頂部
聯系我們
  • *姓名:
  • *聯系電話:
  • *郵箱:
  • *公司/單位/學校:
  • *所在地區:
  • *留言信息: